Multifunktionellt Testsystem CATE-256FI

Testsystemet CATE-256FI är utformat för funktionstest och in-circuit-test (MDA) av elektroniska kretskort, systemenheter och mekatroniska provobjekt. Systemet bygger på NI PXI-moduler som kan konfigureras individuellt efter applikationskrav. Tack vare den modulära uppbyggnaden kan utvidgningar snabbt och kostnadseffektivt genomföras. Systemet finns tillgängligt som en fristående enhet eller som en inline-version. Basconfiguration: • 19” rack, 50HE, IP55 • 19“ PXI – rack, 4HE, 12 slot • PXI - RT inbyggd kontroller • PPSU programmerbar spänningskälla • PSU fast spänningskälla • PXI – DMM med 7½ siffror • PXI – funktionsgenerator • PXI – analogkort • PXI – digital I/O parallell • PXI – relämatris • PXI – relä 4x1 MUX • G12 Virginia Panel provobjektsgränssnitt Hög nivå applikationer: Vid lämplig konfiguration kan testsystemet även användas inom flygteknik och uppfyller därmed även de högsta kraven.