Ntegra Marlin - Funktioner

AFMSICMRaman trippel synergiteknik av kraftfulla nanocharacterization tekniker Hoppande läge jonledningsmikroskopi Icke-kontakt avbildning av levande celler och geléytor QNM kraft av AFM och SICM kvantitativa nanomekaniska studier Smart Patch Clamp automatisk nanopipett riktning för jonkanalstudier Hög hastighet Lång räckvidd Högupplöst kartläggning på nanoskal Nanoinjektion nanopipetter med SICM återkopplingskontroll kan användas för lokala subpikoliter injektioner till enskilda celler SICM (Scanning Ion Conductance Microscopy) är en SPM-teknik som använder nanopipett (vass glaselektrod) för icke-kontakt 3D ytkartläggning med hög upplösning. I SICM kontrolleras avståndet mellan proben och provet via minskningen av den joniska strömmen som flyter genom spetsen, när den närmar sig provytan. Biophys.Journ. 73, 653658 Positionskontroll: kapacitiva slutna slinga sensorer på X,Y,Z axlar XY rörelseområde: 30×30 μm (eventuellt upp till 100×100 μm) Z rörelseområde: 25 μm Z positionsnoggrannhet: 0.1 nm Tillämpningar: SICM (Hoppande läge), SECM, Smart Patch-Clamp, Mikroinjektion, QNM, pH kartläggning Typisk bildförvärvningstid: mindre än 5 minuter (beroende på antal punkter och provets grovhet) Högpresterande lågbrus AFM: Z-brus <0.1 nm (RMS i 10-1000 Hz bandbredd) AFM Tillämpningar: alla standard AFM avbildningslägen (40+), Kraft-avstånd spektroskopi Diffraktionsbegränsad rumslig upplösning: <200 nm i XY, <500 nm i Z (med nedsänkt objektiv) Echelle gitter med ultrahög dispersion; spektral upplösning: 0.007 nm (<0.1 cm-1) Högsta möjliga upplösning optik används samtidigt med AFM/SICM: upp till 1.45 NA Dual scan: skanna av prov OCH skanna av laserpunkt (för Hot Spot kartläggning i TERS)