Nexview™ NX2 - Optisk 3D-yta profilometer

Det optiska 3D-profilometern Nexview™ NX2 har utvecklats för de mest krävande applikationerna och kombinerar särskilt hög precision, avancerade algoritmer, applikationsflexibilitet och automatisering i ett enda paket, vilket gör det till ZYGOs mest avancerade scannande vitt ljusinterferometer (CSI) profilometer. Denna helt beröringsfria teknik optimerar lönsamheten genom att leverera samma sub-nanometerprecision vid alla förstoringar och mäter en större variation av ytor snabbare och mer exakt än andra jämförbara kommersiellt tillgängliga teknologier. Med en mängd olika tillämpningar som planhet, ytstruktur, vågighet, tunna filmer, stegningar osv. är Nexview NX2 det kompromisslösa profilometern för praktiskt taget varje yta och material. 1,9 MP stor yta Hög hastighetsmätningar Automatiserad delfokusering och justering Mätmedelskapabel prestanda Den vibrationsresistenta mättekniken