Solver Nano - Specialiserad AFM

AFM har en stark position inom vetenskaplig forskning och används som ett rutinmässigt analytiskt verktyg för karakterisering av fysiska egenskaper med hög rumslig upplösning ner till atomnivå. Solver Nano är det bästa valet för forskare som behöver ett enda instrument som är ett prisvärt, robust, användarvänligt och professionellt verktyg. Solver Nano är designad av NTMDT SI-teamet som också har skapat högpresterande system som NTEGRA, NEXT II och NTEGRA Spectra II, vilka har bevisats inom den vetenskapliga gemenskapen genom många viktiga publikationer. Solver Nano är utrustad med en professionell 100 mikron CL (closed loop XYZ) piezotubescanner med låg bruskapacitanssensorer. Kapacitanssensorer i jämförelse med sträckmätare och optiska sensorer har lägre brus och högre hastighet i återkopplingssignalen. CL-scannern styrs av en professionell arbetsstation och programvara. Dessa kapabiliteter möjliggör alla grundläggande AFM-tekniker i en kompakt SPM-design. Scanner: 100 x 100 x 12 um closed loop scanner, 3x3x3 um open loop scanner AFM-upplösning: 0.01 nm Miljöer: Luft- och vätskemätningar. Kombinerade videooptiska mikroskop: Inbyggt 100x optiskt USB-mikroskop Design: Bordmodell, prisvärd, robust och användarvänlig Högspänningsläge: 100x100x12 um Lågspänningsläge: 3x3x3 um Scannertyp: Metrologisk piezotube XYZ-scanner med sensorer Sensortyp: XYZ – ultr snabba kapacitanssensorer Lågbrus XY-sensor: <0.3 nm Metrologisk Z-sensor: <0.03 nm Metrologisk XY-sensor: <0.1% Sensorlinjäritet Metrologisk Z-sensor: <0.1% Upplösning: XY - 0.3 nm, Z - 0.03 nm Linjäritet: XY - <0.1%, Z - <0.1% Provpositioneringsområde: 12 mm Provpositioneringsupplösning: 1.5 um Provdimension: upp till 1,5” X 1,5” X 1/2”, 35x35x12 mm Provvikt: Z – Stegmotor Tillvägagångssystemets steglängd: 230 nm Tillvägagångssystemets hastighet: 10 mm per min Algoritm Försiktig tillvägagång: Tillgänglig (proben garanteras att stanna innan den rör vid provet) AFM-huvud för Si-kantilever: Tillgänglig. Alla kommersiella kantilevrar kan användas Typ av kantileverdetektion: Laser/Detektorjustering Probenhållare: Probenhållare för luftmätningar. Probenhållare för vätskemätningar. Typ av AFM-huvudmontering: Kinematiskt monterad. Monteringsnoggrannhet 150 nm (Ta bort/montera noggrannhet) STM AFM-huvud för trådprober: Tillgänglig. Volframtråd för AFM-mätning. (låga kostnadsexperiment) Antal bilder som kan fångas under en skanningscykel: Upp till 16 Bildstorlek: Upp till 8Kx8K skanningsstorlek DSP: Flytande punkt 320 MHz DSP Digital FB: Ja 6 kanaler DACs: 4 sammansatta DACs (3x16bit) för X,Y,Z, Bias Voltage 2 16-bit DAC för användarutgång Högspänningsutgångar: X, -X, Y, -Y, Z, -Z vid -150 V till +150 V XY RMS-brus i 1000 Hz bandbredd: 0.3 ppm RMS Z RMS-brus i 1000 Hz bandbredd: 0.3 ppm RMS XY bandbredd: 4 kHz (LV-läge – 10 kHz) Z bandbredd: 9 kHz Maximal ström av XY-förstärkare: 1.5 mA Maximal ström av Z-förstärkare: 8 mA Integrerad demodulator för X,Y,Z kapacitiva kapacitanssensorer: Ja Öppen/stängd loop-läge för X,Y-kontroll: Ja Generatorfrekvensinställningsområde: DC – 5 MHz Deflektionsregistreringskanalens bandbredd: 170 Hz - 5 MHz Lateralkraftregistreringskanalens bandbredd: 170 Hz - 5 MHz 2 ytterligare registreringskanalers bandbredd: 170 Hz - 5 MHz Bias Voltage: ± 10 V bandbredd 0 – 5 MHz Antal generatorer för modulering, användartillgängliga: 2, 0-5 MHz, 0.1 Hz upplösning Stegmotorstyrningsutgångar: Två 16-bit DACs, 20 V topp-till-topp, max ström 130 mA Ytterligare digitala ingångar/utgångar: 6 Ytterligare digitala utgångar: 1 I2C-buss: Ja Max. kabel längd mellan kontrollern och SPM-basen eller mät huvuden: 2 m Datorgränssnitt: USB 2.0 Spänningsförsörjning: 110/220 V Energiförbrukning: ≤ 110 W