Det tredubbla jonstråleetsystemet Leica EM TIC 3X möjliggör skapandet av tvärsnitt och plana ytor för rasterelektronmikroskopi (Scanning Electron Microscopy - SEM), mikrostrukturanalys (EDS, WDS, Auger, EBSD) och AFM-undersökningar.
Med Leica EM TIC 3X kan du producera högkvalitativa ytor vid rumstemperatur eller med frysta prover från nästan vilket material som helst, så att de inre strukturerna i stor utsträckning bevaras i sitt ursprungliga tillstånd.