Ntegra - Modulär AFM

NTEGRA är en multifunktionell enhet för att utföra de mest typiska uppgifterna inom Scanning Probe Microscopy. Enheten kan utföra mer än 40 mätmetoder, vilket möjliggör analys av fysiska och kemiska egenskaper hos ytan med hög precision och upplösning. Det är möjligt att genomföra experiment i luft, såväl som i vätskor och i kontrollerad miljö. Den nya generationens elektronik möjliggör drift i högfrekvenslägen (upp till 5 MHz). Denna funktion visar sig vara avgörande för arbetet med högfrekvens AFM-lägen och användning av högfrekvenskantilevrar.* Det finns flera skanningstyper implementerade i NTEGRA: skanning av provet, skanning av proben och dualskanning. På grund av detta är systemet idealiskt för att undersöka små prover med ultrahög upplösning (atomär-molekylär nivå) samt för stora prover och skanningsområde upp till 100x100x10 µm. XY provpositionering: 5x5 mm Positioneringsupplösning: läsbar upplösning - 5 µm känslighet - 2 µm