Flying Probe Test
Flying Probe Test

Flying Probe Test

Om denna produkt

Flying-Probe In-Circuit-testmetoden är en elektrisk testmetod som gör det möjligt att snabbt testa kretskort med hög testtäckning, även utan testpads, redan i prototypfasen. Vid denna testmetod positioneras fritt rörliga testnålar programstyrt över luftlagrade linjärmotorer vid förutbestämda koordinatpunkter på kretskortet. Kontakten sker vid elektriska noder direkt på ledningsbanor, vid komponentlödpads, vid SMD-anslutningsstift eller, om det finns, på testpads.
Liknande produkter
1/3
Testsystem GUARDIAN
Testsystem GUARDIAN
Funktionskontrollen är en slutkontroll av bestyckade kretskort för att säkerställa deras funktionalitet. Det universellt användbara GUARDIAN-testssys...
DE-22045 Hamburg
Mekanisk testadapter för test av elektroniska moduler
Mekanisk testadapter för test av elektroniska moduler
Vi skapar testadaptrar enligt dina specifikationer. De består av en robust aluminiumram där dina anpassade nålhållarplattor sätts in.
DE-22045 Hamburg
Boundary Scan
Boundary Scan
Boundary-scan-testmetoden är en elektrisk testmetod för elektroniska enheter utan mekanisk kontakt på kretskortet.
DE-22045 Hamburg

europages-appen är här!

Använd vår förbättrade leverantörsökning eller skapa dina förfrågningar på språng med den nya europages-appen för köpare.

Ladda ner i App Store

App StoreGoogle Play